VEGAPULS61德國雷達液位計

技術參數(shù)

量程 - 距離

35 m

過程溫度

-40 ... 80 °C

過程壓力

-1 ... 3 bar

測量精度

± 2 mm

Frequency

26 GHz

Beam angle

≥ 10°

型式

帶喇叭天線 ? 80 mm

Encapsulated horn antenna

接液材質

PVDF

316L

PP

螺紋連接

G1?, 1? NPT

法蘭連接

≥ DN80, ≥ 3"

衛(wèi)生型連接

Clamp ≥ 2", DN50 - DIN32676, ISO2852

管螺栓 ≥ 2", DN50 - DIN 11851

外殼材料

塑料

鋁Aluminium

不銹鋼，精密鑄件

不銹鋼，經(jīng)電解拋光

保護方式

IP66/IP68 (0,2 bar)

IP66/IP67

IP66/IP68 (1 bar)

輸出

Profibus PA

Foundation Fieldbus

4 … 20 mA/HART - two-wire

Modbus

4 … 20 mA/HART - four-wire

環(huán)境溫度

-40 ... 80 °C

VEGAPULS61德國雷達液位計

Vegapuls61雷達液位計 Vega公司是世界上一家物位及壓力測量儀表的制造商，其主要產(chǎn)品有：VEGAPULS雷達液位計，VEGASON超聲波料位計、超聲波液位計，VEGAFLEX導波式，

Vegapuls61雷達液位計VEGACAL電容式，VEGAVIB振棒式料位開關，VEGASWING液位開關，VEGABAR壓力變送器等。德國VEGA的優(yōu)點主要表現(xiàn)為：采用非接觸式測量，不受介質特性影響（高溫、高壓、真空、粉塵、蒸汽及測量腐蝕性*或混合度高的介質）;可測量液體或固體介質，且混合或更換介質對于測量結果都沒有影響，也不需要重新調試儀表;由于采用非接觸式測量，VEGASON的維護保養(yǎng)非常簡單。 多年來，德國VEGA為冶金、礦產(chǎn)、建材、石化、能源、電力、化工、水處理、食品、醫(yī)藥、造紙、造船、機械制造

Vega雷達液位計測量原理:通過探頭發(fā)射10kHz至70kHz頻率范圍的超聲波，超聲波遇到被測介質后被反射回來被探頭接收。超聲波以聲波速度傳播，從聲波發(fā)出到反射聲波接收的時間與探頭到被測介質表面距離成正比。VEGASON系列傳感器采用的微處理技術和*的ECHOFOX軟件可以準確分析出物位回波，排除虛假反射并精確計算出到被測介質表面的距離。一體式的溫度探頭可以測量容器內的溫度，并對溫度造成的測量誤差進行補償。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調試。
    VEGA測量范圍大: 超聲波傳感器VEGASON61、VEGASON62、VEGASON63、VEGASON64、VEGASON65、VEGASON66適于測量液體介質和固體介質。這幾種儀表的區(qū)別在于:測量范圍、探頭的形式和過程連接。通過不同的發(fā)射頻率，測量范圍可以從5米至120米。探頭和過程連接采用穩(wěn)定的材料，可以測量腐蝕性介質。對于VEGASON63還可以選用一個非常實用方便的龍門框來調節(jié)傳感器的方向。

雷達式物位測量儀表 
     VEGA物位雷達式VEGAPULS61，PULS62，PULS63，PULS65，PULS66、PULS67、PULS68，PULS51、PULS52、PULS53、PULS54、PULS41、PULS42、PULS43、PULS44、PULS45液體或固體介質，特別適用于高溫、高壓、真空、粉塵、蒸汽及測量腐蝕性*或混合度高的介質。 
     
超聲波式物位測量儀表 
     VEGA超聲波物位測量SON61、SON62、SON63、SON64、SON65、SON66、SON71、SON72、SON73、SON74、SON75、SON51、SON52、SON53、SON54、SON55、SON56用于測量不同密度及表面特性的液體和固體介質，測量開口明渠的流量和距離。 
     
微波式物位測量儀表 
     VEGA導向微波式物位測量FLEX61、PLEX62、PLEX65、PLEX66、PLEX67 對所有介質進行位式檢測，這些介質必須能減弱或反射微波。用來監(jiān)控傳送設備運轉狀況。 
     
振動式物位測量儀表 
     VEGA振動式固料式測量VIB55、VIB61、VIB62、VIB63、VIB65、VIB66、67VEGA振動式位式測量SWING51、SWIN61、SWIN63、SWIN71A用于對液體和固體進行位式檢測。測量結果不受被測介質特性的影響，也不受容器內工況條件的影響。